超声波测厚仪的声速变了，测量值就会变。例，在调节声速时，按一下“enter”键则声速快速地调整为5900m/s。在菜单中选择“声速”或“声速调整”，按住“cal”或“校准”键两秒左右，声速就快速地调整为5900m/s，再按“enter”或“确认”键，就返回到测量状态。如果测量还存在误差，测量仪器上的标准试块，对比试样/块校准公司，液晶应该显示“4.0”或“4.00mm”，若是其数字，则在一边测量试块一边按住“cal”或“校准”键2秒左右，直到数字变成“4.0”或“4.00mm”，即完成了对仪器的校准，就可以准确无误地进行测量了。
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不---的。
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，对比试样/块校准方案，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，对比试样/块校准，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，对比试样/块校准，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
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