1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，校准试样方案，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，校准试样，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，校准试样，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 khz~250 khz的宽频扫查，并可进行频扫图像显示、a扫信号显示和包络显示，可对a扫信号进行dac(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测，考虑到试块需加工内部球孔缺陷，所以取管道原长度的1/2进行加工，由于无法采用传统线圈探头进行检测，所以采用板波探头进行检测，换能器的设计分为柔性和硬性两部分，校准试样公司，其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。
5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万rmb以上)，适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。
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