1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或c?h?o进行清洗，对比试样/块校准报价，用滤纸擦干，保持表面清洁，对比试样/块校准，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(---时使用合适的工装予以固定)，调整试样，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的x或y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换---放大倍数对试样---，对比试样/块校准公司，调整载物台及试样，使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备，使测量面---清晰，选择测量点位。
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不---的。
一. 基体表面曲率 在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。 二.基体金属较小厚度 基体金属必须有一个给定的较小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，较小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，对比试样/块校准，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量---虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。
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